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簡要描述:實驗數(shù)據(jù):用工頻500V電壓加載50pF電容,測量信號電流約8μA,無干擾時,用20000V工頻做干擾,距離被試品10厘米,快速測量測得介損為12.23%,抗干擾測量測得介損為0.09%。
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一、概說
SXJS-IV型系列智能化介質(zhì)損耗測試儀是一種*的測量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量( Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗( tgδ)和電容容量(Cx )。它淘汰了QSI高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印,使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強等優(yōu)點。JSY—03體積小、重量輕,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。
二、技術(shù)指標
1.環(huán)境溫度:0~40℃(液晶屏應避免長時日照)
2.相對濕度:30%~70%
3.供電電源:電壓:220V±10%,頻率:50±1Hz
4.外形尺寸:長×寬×高=490mm×300mm×390mm
5.重量:約18Kg
6.輸出功率:1KVA
7.顯示分辨率:4位
8.測量范圍:
介質(zhì)損耗(tgδ):0-50%
電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤ 300nF( 300000pF)
3KV檔:≤200nF( 200000pF)
5KV檔:≤ 76nF( 76000pF)
7.5KV檔:≤ 34nF( 34000pF)
10KV檔:≤ 20nF( 20000pF)
9.基本測量誤差:
介質(zhì)損耗(tgδ): 1%±0.07%(加載電流20μA~500mA)正接
介質(zhì)損耗(tgδ): 2%±0.09%(加載電流?。?mu;A~20μA)反接
電容容量 ( Cx):1.5%±1.5pF
三、結(jié)構(gòu)
儀器為升壓與測量一體化結(jié)構(gòu),輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào),以適應各種需要,在測量時無需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似,但比其方便。
圖一為儀器操作面板圖,圖二為儀器接線端面圖。
⑴ 顯示窗————————液晶顯示屏。
⑵ 試驗電壓選擇開關(guān)———當開關(guān)置于“關(guān)"時,儀器無高壓輸出。
⑶ 操作鍵盤———————選擇測量方式、起動、停止、打印等操作。
⑷ 電源插座——————— 保險絲用5A。
⑸ 電源開關(guān)———————電源通斷。
⑹ 起動燈————————指示高壓輸出。
⑺ 打印機————————打印測試結(jié)果。
★★★★⑻ 接地端子——————使用前,必須將該端子可靠接地?。?!
★⑼ 測量電流輸入端IX———有兩個出線頭,中心頭(紅色,有CX標記)應與被 試品一端相接,屏蔽頭(黑色,有E標記)是儀器內(nèi)部高壓輸出一個參考端,在 正接法測量時應接地;在反接法測量時應浮空;外接法參見“外接高壓法"。
★⑽ 標準電流輸入端IN———僅當外接標準電容器進行測量時才用,該端應與外接 標準電容器一端相連。IN必須小于100mA?。?!
⑾ 測量高壓輸出端UH——只有一個大鐵夾出線頭(有UH標記),與被試品一端 相接。
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